Verification of Muon-Electron Universality in Charm Decay
M. E. Duffy, G. K. Fanourakis, R. J. Loveless, D. D. Reeder, D. L. Schumann, E. S. Smith, S. Childress, C. Castoldi, G. Conforto, R. C. Ball, C. T. Coffin, H. R. Gustafson, L. W. Jones, M. J. Longo, T. J. Roberts, B. P. Roe, E. Wang, M. B. Crisler, J. S. Hoftun, T. Y. Ling, T. A. Romanowski, and J. T. Volk
pp.
1865-1868 [
View
PDF (657 kB)
]